显微镜配件
X Line ： 无限可能， 自由之翼
Olympus 革新的透镜打磨技术让 每一颗高性能 X-line 物镜的透镜 核心区更纤薄。
精准采集图像，优化研究成果
扩展的平场性
常规的物镜在视野中心具有极佳的成像质量，但最边缘区域是虚焦 的，而X line系列物镜能够在大视野下，获取从中心到边缘质量均一 的图像，如果您想进行图像拼接，更好的平场性将带来更加清晰的 大区域拼图。
优异的色彩精准度
色差校正覆盖400-1000nm波长范围，X-Line系列物镜能够获取精准的 多色图像，并在共定位分析中获得准确的定量结果。
卓越的图像质量
X-Line系列物镜的高数值孔径能够收集更多的信号，进而获得亮度更 高，分辨率更好的图像，在活细胞荧光成像中，能够将光毒性和光漂白 降到最低
沪公网安备 31010402005179号
上海天放